宽带2-16微米中远红外光束质量分析仪产品特点：· 自动化NUC集成快门14-bit ADC · 14 ms积分时间，脉冲测量重复频率可达1kHz · 无需斩波器和TEC制冷 · 加套件可用于M2测量

metrolux BM3745 UV/VIS激光光束质量仪 metrolux激光光束分析仪可测量激光强度分布，范围包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直径从1µm - 100 mm，可按EN-ISO标准记录和分析光束。 具有适合于分析光斑和光束位置以及用于均匀激光光束特点描述的各种软件工具，可选附件便于协调脉冲激光器和单脉冲的测量。

UVM10 -UV光束质量分析仪$n metrolux激光光束分析仪可测量激光强度分布，范围包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直径从1µm - 100 mm，可按EN-ISO标准记录和分析光束。$n 具有适合于分析光斑和光束位置以及用于均匀激光光束特点描述的各种软件工具，可选附件便于协调脉冲激光器和单脉冲的测量。

Metrolux VIS-NIR 光束质量分析仪 产品简介 metrolux激光光束分析仪可测量激光强度分布，范围包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直径从1µm - 100 mm，可按EN-ISO标准记录和分析光束。 具有适合于分析光斑和光束位置以及用于均匀激光光束特点描述的各种软件工具，可选附件便于协调脉冲激光器和单脉冲的测量。

FM系列焦斑质量分析仪 紧凑的探测器头由一个CCD传感器、一个集成的衰减器、一个近场透镜和Beamlux Ⅱ高级分析软件组成。功率与工作距离与适配的探测器选择有关，详见下方型号选择表格。 大范围波长可选，根据近场透镜确保对大数值孔径和高脉冲功率密度的光斑进行测量。

激光光束稳定器 激光光束由于其方向性好的优点，常被作为直线基准广泛应用在加工和测量设备中。但由于受环境状态等因素的影响，制约了激光方向稳定精度的进一步提高，限制了激光在超精密加工和测量设备中的进一步应用。因此，需要对激光光束作准直处理。在自动准直系统中，系统根据输入光束光斑的位置，驱动执行机构，自动调整接收装置位置，达到实时跟踪准直的目的。