基于Phasics四波横向剪切干涉zhuan利技术，SID4-HR波前分析仪提供了一个无yulun比的相位和强度高分辨率（400x300测量点）图。由于它测量发散光束不需要中继镜头，简单对齐即可测试光学元器件。其高分辨率确保结果的重复性。高分辨率还开辟了波前传感的新用途：等离子体密度测量，相位成像显微… Phasics 高分辨波前传感器

基于Phasics专li的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。 Phasics 波前传感器

Phasics 波前传感器SID4-UVHR是*适用于光学元件的特性（用于光刻技术、半导体…）和表面检查（透镜和晶片…）。由于它小巧，易于使用，能有效地适应各种实验条件。

Phasics 波前传感器基于Phasics四波横向剪切干涉技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm，具有超高分辨率（160x120测量点）。

phasics真空环境兼容波前分析仪SID4-V是目前市场上一款可应用于真空度在10-6 mbar环境中的波前分析仪，广泛应用于高功率激光测试中。

高分辨近红外波前分析仪 基于Phasics专li的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。

产品介绍：法国Phasics SID4系列波前分析仪（上海屹持光电代理），基于其波前测量——四波横向剪切干涉技术（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作为夏克-哈特曼技术的改进型，这种*的技术将超高分辨率和超大动态范围结合在一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。

metrolux 夏克-哈德曼波前分析仪WFS Metrolux 夏克-哈德曼波前分析仪 WFS3743-40-200可在线分析激光及其他光源的波前相位分布，也可高精度的测量光学器件的像差。可以用于手机和相机的镜头等光学透镜质量控制。夏克-哈特曼式传感器的波前监控器配合外部软件可用于波前数据分析。