310CD 110kHz高速光学斩波器是一种叶片直径为102mm的高速机械式光学斩波器. Z高斩波频率可达110kHz，而且具有非常好的稳定性，*了普通机械调制和晶体调制之间的空白。

产品介绍：法国Phasics SID4系列波前分析仪（上海屹持光电代理），基于其波前测量——四波横向剪切干涉技术（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作为夏克-哈特曼技术的改进型，这种*的技术将超高分辨率和超大动态范围结合在一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。

TTI（Terahertz Technologies Inc.）生产的TIA-525，TIA-527，TIA-952系列光电探测器BNC接口可以直接连接示波器或者数字接收设备。TIA-1200，TIA-2000，TIA-3000，TIA-4000为K型SMA母口。光纤耦合和自由空间输入可选，使用转接线或者适配器能适应各种光纤输入。TTI 光电转换器 TIA525

LDR 905 SR 实时迷你2 D激光雷达测距仪 LDR 905 SR实时迷你2 D激光雷达传感器是比较好的激光雷达测距系统.超紧凑、轻、低功耗的设计使得LDR 905 SR成为实时2维小型雷达测量的产品之一，满足于无人机与无人驾驶的传感系统需求。 该传感器的设计用来满足自主车辆严格的SWAP需求。例如：无人机（UAV）自动着陆系统、映射和“感知和避免”系统。

metrolux BM3745 UV/VIS激光光束质量仪 metrolux激光光束分析仪可测量激光强度分布，范围包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直径从1µm - 100 mm，可按EN-ISO标准记录和分析光束。 具有适合于分析光斑和光束位置以及用于均匀激光光束特点描述的各种软件工具，可选附件便于协调脉冲激光器和单脉冲的测量。

UVM10 -UV光束质量分析仪$n metrolux激光光束分析仪可测量激光强度分布，范围包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直径从1µm - 100 mm，可按EN-ISO标准记录和分析光束。$n 具有适合于分析光斑和光束位置以及用于均匀激光光束特点描述的各种软件工具，可选附件便于协调脉冲激光器和单脉冲的测量。

Metrolux VIS-NIR 光束质量分析仪 产品简介 metrolux激光光束分析仪可测量激光强度分布，范围包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直径从1µm - 100 mm，可按EN-ISO标准记录和分析光束。 具有适合于分析光斑和光束位置以及用于均匀激光光束特点描述的各种软件工具，可选附件便于协调脉冲激光器和单脉冲的测量。

FM系列焦斑质量分析仪 紧凑的探测器头由一个CCD传感器、一个集成的衰减器、一个近场透镜和Beamlux Ⅱ高级分析软件组成。功率与工作距离与适配的探测器选择有关，详见下方型号选择表格。 大范围波长可选，根据近场透镜确保对大数值孔径和高脉冲功率密度的光斑进行测量。