SID4波前传感器可同时提供具有很高高分辨率的相位和强度测量，它与其光束分析软件相结合，可对激光器进行全面诊断：波前传感器激光测量、波前像差、强度分布、激光束质量参数（M2、腰围尺寸和位置……）。它有非常高空间分辨率（250x250测量点）和高灵敏度（2nmRMS）。这确保了UV镜头，表面和UV激光束测试的精确性。由于它小巧，易于使用，能有效地适应各种实验条件。
探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要的参考标准镜;它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为入门级的高分辨率波前传感器，SID4覆盖可见光和近红外范围，是适用于各种激光或光学计量应用的多功能工具。
由于其砖砾技术，SID4波前传感器具备以下特点：
1、超高分辨率：250x250测量点
2、高灵敏度：2nm
3、直接测量：测量光学元件和发散光无需中继透镜
4、高性价比：光束和透镜测量高性价比解决方案
应用领域：
主要包括四个领域，即激光测量、光学计量学、定量相位成像和材料检测。为了让更多人了解这些应用，下面我们列出了一些应用方便大家了解：
1、例如，我们可以在激光测量中，描述激光束的特征，以获得其像差或传播信息。也可以通过将波前传感器与一个可变形的镜子耦合来进行自适应光学，不仅仅可以测量还可以纠正激光的像差。
2、在光学计量学中，你可以对各种光学器件进行表征。你可以检查镜子的相位质量或透镜组件的数量，也可以测量子组件和完整的装配系统。
3、在定量相位成像中，你可以测量各种样品。例如红血球，细菌，但也可以进行细胞生长的跟踪，例如，看到其演变中的干质量来测量和量化细胞的含量。
4、在材料检测方面，你也有所有的可能性例如，元表面测量，你想在维修时检查元表面水平的波前。你也可以对透明材料进行测量，比如说光波导。并看到真正获得你的透明样品的折射率图。
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